供應(yīng)半導(dǎo)體美國BOWMAN X射線熒光膜厚測試儀結(jié)構(gòu)緊湊、堅固耐用、用于質(zhì)量控制的可靠的臺式X射線熒光分析設(shè)備，提供簡單、快速、無損的鍍層厚度測量。具有強(qiáng)大功能的X-射線XDVM-μ帶WinFTM  V6 軟件可以分析包含在金屬鍍層或合金鍍層中多達(dá)24種獨立元素的多鍍層的厚度和成分和材料分析，4個初級濾波器，4個電動準(zhǔn)直器（0.1 0.2 0.3 1.5mm）。在經(jīng)濟(jì)上遠(yuǎn)遠(yuǎn)優(yōu)于多元毛細(xì)透鏡的Fischer專有X-射線光學(xué)設(shè)計使得能夠在非常精細(xì)的結(jié)構(gòu)上進(jìn)行厚度測量和成分分析。半導(dǎo)體美國BOWMAN X射線熒光膜厚測試儀可以勝任測量傳統(tǒng)的鍍層厚度測量儀器，由于X-射線熒光強(qiáng)度不夠而無法測量到的結(jié)構(gòu)，操作系統(tǒng)：Windows XP中文平臺 分析軟件包：SmartLink FP軟件包  測厚范圍 可測定厚度范圍：取決于您的具體應(yīng)用?；痉治龉δ?nbsp; 采用基本參數(shù)法校正。將根據(jù)您的應(yīng)用提供必要的校正用標(biāo)準(zhǔn)樣品。為客戶創(chuàng)造最大的價值是金東霖追求的目標(biāo)，因為我們堅信，客戶的需要就是我們前進(jìn)的動力。愿我們成為真誠的合作伙伴 。聯(lián)系人：陳小姐 13691950203     電話：0755-29371652