光學(xué)膜厚儀是一種非接觸式測量儀器，一般會運用在生產(chǎn)廠商大量生產(chǎn)產(chǎn)品的過程，由于誤差經(jīng)常會導(dǎo)致產(chǎn)品全部報廢，這時候就需要運用光學(xué)膜厚儀來介入到生產(chǎn)環(huán)境，避免這種情況的發(fā)生。

本儀器是使用白光干涉的原理，從而對樣品表面的膜層進行測量，基本上所有光滑的、半透明的或者地吸收洗漱的薄膜都可以進行測量。

儀器的使用優(yōu)點：

1、測量數(shù)據(jù)多樣：可以測得物體的膜厚度和n，k數(shù)據(jù)，這是其它類型的膜厚儀所不具備的特點；

2、測量快速：光學(xué)膜厚儀的測量過程非?？焖伲驗樵撛O(shè)備采用了先J的結(jié)構(gòu)設(shè)計，能夠較大程度的提升測量效率，相比于其他類型膜厚測量設(shè)備來說顯得非常輕巧方便；

3、非接觸式測量：光學(xué)膜厚儀采用的原理是通過光的反射原理對膜層厚度進行測量，屬于非接觸式測量方法，不會對樣品造成任何損傷，能夠保Z樣品的完整性；

4、適用范圍廣：光學(xué)膜厚儀的適用范圍非常廣泛，從普通家用到工廠的工業(yè)生產(chǎn)，再到大學(xué)實驗室和科學(xué)研究所，都可以看到它的身影，由此可見它的使用范圍極其廣泛，能夠作業(yè)的場合也變得更加多樣化。

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