登錄后方可查看聯(lián)系方式膜厚測試儀用先進的X射線技術(shù),可高效率低成本,小型的X-射線熒光光譜儀,操作簡易但功能強大,可分析元素由鋁(13)到鈾(92),并且具備視像顯微鏡及可測量小到ppm的范圍,即使是較大的測量樣品也可放在XY(Z)測量臺上，拾載的WinFTM v6軟件,使儀器可以在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進行測量。使用功能強大、操作簡單的X射線熒光光譜儀進行鍍層厚度測量，保證質(zhì)量的同時降低成本。
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域公認(rèn)的領(lǐng)導(dǎo)者,通過旗下12家子公司和32個在不同國家的代表處活躍于全球，在香港經(jīng)營多年，在科研機構(gòu)、高等院校，線路板、五金電鍍、汽車制造、衛(wèi)浴、連接器、鐘表、珠寶首飾領(lǐng)域擁有大量的
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