品牌：日本unio

厚度測量顯微鏡    原理：

THS是一款非接觸式的光學(xué)測量系統(tǒng)。它采用光學(xué)對焦檢測原理。THS采用上下兩套光學(xué)系統(tǒng)，各配置單獨的光學(xué)對焦系統(tǒng)，用于觀察工件的位置和形狀，測量厚度可達(dá)10mm。THS光學(xué)系統(tǒng)，操作簡單，而且，裂像會清晰的顯示在顯示器中。 

THS厚度測量原理是基于unio獨特的光學(xué)測量原理。THS有上下兩套光學(xué)系統(tǒng)，每個系統(tǒng)都有精密的對焦裝置，對焦裝置內(nèi)有一個內(nèi)置的裂像。 

厚度測量顯微鏡    特點：

即使工作臺上沒有放置工件，顯示器上也會顯示裂像圖像，裂像圖像可通過上下光學(xué)系統(tǒng)簡單的辨別。 

此設(shè)備通過上下兩個鏡頭對零件兩個面進(jìn)行聚焦，以下鏡頭為基準(zhǔn)，上鏡頭進(jìn)行聚焦測量，從而測量出被測零件的厚度。不但精度可達(dá)1微米，而且采用unio光學(xué)株式會社專有的裂像輔助對焦系統(tǒng)可以最大程度的減少人為誤差從而達(dá)到精準(zhǔn)測量。此設(shè)備最大測厚尺寸為25mm。

厚度測量顯微鏡    測量步驟

A、先將上下兩鏡頭在不加任何測量件的情況下同時聚焦，此時兩個清晰的裂像標(biāo)記出現(xiàn)在顯示器上。然后，將Z軸數(shù)字計數(shù)器置零。（如圖） 

B、將樣品放置在顯微鏡工作臺上, 然后移動下鏡頭聚焦于樣品的底部。

C、當(dāng)下鏡頭聚焦到測量零件表面后，再移動上鏡頭的調(diào)焦旋鈕。當(dāng)裂像指示器清楚的聚焦在測量樣品表面時，此時讀數(shù)器上顯示的數(shù)值即為所測樣品的厚度 

厚度測量顯微鏡    應(yīng)用行業(yè)：

測量范圍為0~10mm，因此應(yīng)用范圍廣泛。

開罐器 

可以量測開罐器的各個部分(score residual, etc.) 

測量蓋子凹槽的深度(score residual, etc.) 

Wafer減薄行業(yè)厚度測量、電池行業(yè)防爆彈片厚度測量等等

unio厚度測量顯微鏡與激光測量的區(qū)別

THS光學(xué)測量，不僅可以測量，還可以觀察測量點的表面情況

激光測量，僅可以測量

產(chǎn)品詳情：http://www.wyldar.com/productshow.asp?id=1008