產(chǎn)品名稱：按鍵打擊壽命測(cè)試儀

產(chǎn)品型號(hào)：JP-AD3

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

按鍵壽命試驗(yàn)機(jī)可對(duì)手機(jī)按鍵、MP3按鍵、電腦鍵盤(pán)、鼠標(biāo)按鍵、電梯按鈕、電子詞典、搖控器按鍵、橡膠按鍵等做壽命測(cè)試，適用于檢測(cè)按鍵開(kāi)關(guān)、輕觸開(kāi)關(guān)、薄膜開(kāi)關(guān)按鍵等各類按鍵進(jìn)行壽命試驗(yàn)。具有速度可調(diào)，次數(shù)任意設(shè)定，同時(shí)可測(cè)試數(shù)個(gè)產(chǎn)品（每個(gè)產(chǎn)品均可多點(diǎn)測(cè)試）。另每個(gè)按鍵可以設(shè)定不同壓力及不同高度。同時(shí)采用每個(gè)測(cè)試頭分開(kāi)控制,專用夾具設(shè)計(jì)，人性化操作,可滿足客戶不同測(cè)試需求!

主要參數(shù)：

*測(cè)試速度：5~60次/分鐘，可任意調(diào)節(jié)

*測(cè)試行程：可任意調(diào)測(cè)試行程（0~10mm）

*測(cè)試次數(shù)：1~999999次,可任意設(shè)定

*驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)：無(wú)極調(diào)速繼電馬達(dá)

*驅(qū)動(dòng)功率：40W（根據(jù)測(cè)試需求更改）

*測(cè)試項(xiàng)目：自主研發(fā)PLC芯片自動(dòng)檢測(cè)被測(cè)開(kāi)關(guān)的電氣性能與機(jī)械性能壽命老化試驗(yàn)(如被測(cè)產(chǎn)品損壞；儀器以報(bào)警信號(hào)發(fā)出，并停止作業(yè)，人性化操作)

*電源：AC220V

*尺寸：根據(jù)產(chǎn)品制定

*重量：根據(jù)產(chǎn)品制定

★可根據(jù)客戶需求定制不同規(guī)格、類型儀器。